2015年2月27日 - 推動(dòng)高能效創(chuàng)新的安森美半導(dǎo)體 (ON Semiconductor,美國(guó)納斯達(dá)克上市代號(hào):ONNN) 已成功示范其第二代相位檢測(cè)自動(dòng)對(duì)焦 (PDAF) 技術(shù)以獨(dú)特的像素微鏡技術(shù)為特色,令在25勒克斯 (Lux) 光照水平下快速對(duì)焦。這種獨(dú)特的技術(shù)已成功實(shí)現(xiàn)在具備1.1微米(um)像素的1300萬像素(MP)測(cè)試芯片,并將用于今年內(nèi)為移動(dòng)終端市場(chǎng)客戶作介紹的新品中。
“已不是神話”——在微光下使用的快速自動(dòng)對(duì)焦技術(shù)
發(fā)布時(shí)間:2015-02-27 責(zé)任編輯:wenwei
2015年2月27日 - 推動(dòng)高能效創(chuàng)新的安森美半導(dǎo)體 (ON Semiconductor,美國(guó)納斯達(dá)克上市代號(hào):ONNN) 已成功示范其第二代相位檢測(cè)自動(dòng)對(duì)焦 (PDAF) 技術(shù)以獨(dú)特的像素微鏡技術(shù)為特色,令在25勒克斯 (Lux) 光照水平下快速對(duì)焦。這種獨(dú)特的技術(shù)已成功實(shí)現(xiàn)在具備1.1微米(um)像素的1300萬像素(MP)測(cè)試芯片,并將用于今年內(nèi)為移動(dòng)終端市場(chǎng)客戶作介紹的新品中。
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